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所以是未上市股票

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只要雙方議價同意就可以

所以價格是雙方議定

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這些問題都要等公司公告才知道~

市場上常常有來路不明的訊息

號稱即將上興櫃

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未上市股票因為是私人間交易

相較上市櫃股票而言

會有流動性風險

產生想變現也無法變現的狀況

所以投資一定要多多了解公司

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公司新聞

邑流微測：半導體、面板、PCB產業先進製程的最佳夥伴

邑流微測期待透過這次獲得國家 TIE Award 獎的加持，能成為邑流微測進一步強化本身實力的幫助力量，並以成為國家代表隊為榮。

未來科技館

獲得首屆 TIE Award 獎評審青睞的邑流微測，是以電子束與先進光學等平台檢測微奈米級液態樣本，作為創新核心技術，提供液態樣品全方位檢測解決方案（Flow AOI）。在半導體、面板、印刷電路板等紛紛挑戰極微、極精密製程時，透過全方位檢測方案保證材料的最佳分散性、潔淨度，不僅是產業維持製程良率的重要幫手之一，更能協助這些產業達成循環永續與淨零碳排的目標。

邑流微測是 2017 年從工研院衍生的新創公司，創辦人也是現任的執行長李信宏 2013 年參與工研院/清大學研計畫，專注投入開發電子束液態檢測技術，熟悉流體的他，興起何不將微流體控制技術結合電子束檢測的想法，於是從自己熟悉的領域出發，跨出創新研發的第一步。

AI 影像辨識整合軟硬體和成像分析服務成關鍵

而在半導體、面板、印刷電路板等產業的製造過程中，都少不了要仰賴化學溶液，進行清洗、蝕刻、研磨、塗佈等，而溶液中奈米粒子的尺寸、分布與多寡就會影響生產良率。邑流微測運用自行開發的人工智慧（AI）影像辨識技術，整合硬體、軟體及成像分析服務，能很快速讓能清楚掌握高階先進製程中微小粒子的顆粒、大小、形狀，還瞭解它們的分布和成分，成為這些產業提高良率非常重要的利器。

2022 年全球濕式製程分析市場規模達 23 億美元，而邑流微測的Flow AOI解決方案目前已從最初著重前端材料分析，發展至包含製程監控、污廢水檢測等的完整服務，可量測 10奈米以下的範圍，並為客戶節省 70 % 的人力和材料成本。

李信宏執行長更進一步指出，透過液態樣本全方位檢測方案還能讓需要循環再利用的化學材料，保持潔淨度，不會影響在製程上的使用，也不需要擔心造成環境污染，也可以進一步協助產業處理污廢水，都將是未來邑流微測很重要的新市場利基。

李信宏執行長回憶公司初創時，用英文名稱「 FlowVIEW 」取中文名稱時，原本會取名為「 視流 」，雖能傳達公司的技術涵意，但李信宏執行長覺得，要在科技業立足就得要做到頂尖，因此在公司要躋身一流行列的期許下，採用同音的「 邑流 」，而且「 邑 」字還能代表公司未來需要努力地開疆闢土。

期 TIE Award 加持，能站穏台灣進而放眼國際

李信宏執行長指出，目前國發基金、日本住友二個策略投資夥伴以及工研院都對邑流微測的發展，提供相當重要的幫助，以台灣相關的產業發展來看，邑流微測也希望能進一步和半導體、面板、印刷電路板等產業領導廠商發展更深層的合作關係，而包含許多濕式製程、且日益受到重視的電池儲能產業，也會是邑流微測未來重要的市場目標，唯有在台灣站穩腳步後，邑流微測走向國際的腳步才會更為穩健。

面對未來勢必要走向國際，李信宏執行長表示，不同於台灣的產業特性，國外的生醫藥、先進奈米材料等等產業會是邑流微測相當重要的發展方向，只是當走向海外時，難免會遇到更多國際強勁對手的競爭，而這些競爭對手通常擁有相當強大的資本優勢。邑流微測期待透過這次獲得國家 TIE Award 獎的加持，能成為邑流微測進一步強化本身實力的幫助力量，並以成為國家代表隊為榮。

邑流微測AI微流光學顯影新突破 6/24舉辦線上研討會

經濟日報 翁永全

生醫藥、電池能源、奈米材料與環境檢測產業常運用光學檢測進行品質驗證。因為仰賴訊號源判讀，常導致結果失真。邑流微測以創新微流光學成像技術，結合獨創性之微流體檢測和AI應用，研發「全自動微流影像分析系統」，突破目前倚靠間接證據判讀的窘境，提供更準確的實驗數據資料，為全台唯一能提供完整AI影像式流體檢測解決方案。

根據現有資料顯示，現行微流體檢測多仰賴訊號源判別實驗結果，導致非圓形物質、半透明或氣泡無法辨識，也常發生微粒大小、分布等數據失真的狀況。邑流微測整合「獨家微流光學成像技術」及「微流體分析」，做到真實還原物質輪廓、微生物種類分析等，可應用於LCD面板廠蝕刻用溶液分析、半透明物質累積統計與工廠廢水之微生物種類辨識等，同時加上影像式資料呈現，提供直接且精準的實驗結果資料，不論對於學研單位或是相關需求產業，都是一大福音。

為讓更多使用者了解此項創新應用，邑流微測6月24日(四)15﹔00將舉辦「2021微流體影像新趨勢」線上研討會，由該公司流體光學影像檢測權威-施敏權博士主講，更邀請日本微流體學先驅-北森武彥教授，親身分享目前日本微流體檢測的概況與未來趨勢！

2017年由工研院量測中心Spin-off後，邑流微測目前產品服務遍布全球，獲得30多家國際知名企業與先端研究單位青睞採用，如英國University of Oxford、美國Los Alamos National Laboratory等。去年更在疫情逆境中突圍，獲得行政院國發基金與日本住友商事兩大重量級股東投資，在一片不景氣的聲浪中，引起業界高度關注。

邑流顯微流體晶片 液態材料檢測解方
由工研院新創公司邑流微測（FlowVIEW Tek）研發的顯微流體檢測晶片（Microscopic Fluid Chip），若結合掃描電子顯微鏡（SEM），並依不同的檢測物搭配客製化載具，可用於高解析度液態檢測，使目標材料在保持原始狀態下進行奈米甚至原子等級的觀察，在學術界及半導體、電子、生醫製藥等產業應用潛力極大。
邑流微測總經理李信宏表示，在真空環境下進行的電子束檢測，過去只能做乾式樣品檢測，一旦搭配顯微流體晶片，可使觀測樣品從乾式擴充至濕式，甚至活體都能檢測。經由系統設計，也可對樣品進行溫度及流體控制，甚至通電，以便展開更突破性的研發。
在既有的SEM加上顯微流體檢測晶片，李信宏以智慧手機在通訊功能以外，附加攝影鏡頭為喻，為必然的發展趨勢。不同於一般設備及儀器商，邑流微測除擁有核心技術及產品，也擅長系統整合，其「液態材料自動化檢測解決方案提供者」的定位更加鮮明。3年來國內外的關注度持續升高，近期也將獲得國際大廠注資，帶動營運更上層樓。
邑流微測與亞洲最大的檢測公司宜特科技合作建立奈米先端液態材料檢測實驗室，已於今年正式啟用，近期因應疫情推出為期3個月首次半價優惠，適用於學研單位與半導體產業。共同創辦人李正宇看好國內外學研產業需求，他表示，愈來愈多已購買上百萬SEM的學術與研發機構，有意加購最新產品Aquarius Starter kit進行臨場液態材料觀測，以小投資提升既有設備的性能；除了教學，也能為教授發表高點數最新論文助攻。

邑流微測 強攻液態奈米檢測
甫獲Computex 2019創新設計獎的邑流微測（FlowVIEW Tek），團隊出身於工研院，並以自主開發的專利創新技術，成為全球唯一可提供高解析度液態樣品奈米檢測的全方位解決方案（Flow AOI）供應商。
近日邑流微測再獲科技部TTA推薦，優先選送進2019 Berkeley Skydeck加速器第二階段競逐，獲邀與美國UC Berkeley旗下最大的官方新創加速器Skydeck的投資者進行產業策略對談。
積體電路發明60年，繁複製程中，包括晶圓生產的黃光蝕刻、薄膜、顯影等製程中，都必須使用到液體或揮發性材料，如CMP研磨液、光阻液、蝕刻化學製品、去離子水等，但是以往在製程檢測上卻只有單一固態的乾式檢驗。
邑流微測指出，半導體產業一貫的分析作法是將濕式材料烘烤後，變成固態，但是經烘烤後的液態材料必然產生團聚或變質，因此過去半導體產業在液態材料的監測上，常態性的觀測均已非原位形態的失真樣本，惟受限於濕製程檢驗的高端技術困境難以突破，半導體產業選擇退而求其次檢測方案。
2017年7月由工研院衍生創立的邑流微測，團隊運用獨家開發的AI影像分析軟體，突破既有液態檢測模式的技術困境，並以自主研發的液態SEM載台與微奈米級漿料分析技術，以領先全球的高解析度影像顯示液體內微奈米粒子的原始分布狀態，樣本無需前置處理作業，於監測現場30秒內便能搭配自主研發的AI人工智慧分析軟體揭露半導產業在濕製程多年懸而未解的液態微奈米材料之謎。
 

邑流微測聚焦台積3奈米　定義先進濕製程檢測新標準
工研院出身的新創公司邑流微測(FlowVIEW Tek)，專注於提供液態樣品奈米檢測的全方位解決方案(Flow AOI)，運用獨家開發的AI影像分析軟體，突破既有液態檢測模式的技術困境，未來更將全力搶進台積電3奈米先進製程的濕製程檢測商機。
邑流微測專注於提供液態樣品奈米檢測的全方位解決方案(Flow AOI)，並致力於生醫、半導體與能源和環境等領域的奈米檢測系統整合與服務，技術初期由工研院技轉，而在經過團隊努力後，目前已有專屬於公司的更新技術突破與專利佈局。
邑流微測已陸續取得台灣、大陸、日本、美國專利。在技術面上，分別布局在微熱流控制、電子束檢測、半導體檢測、生醫光學檢測與能源材料分析等領域，已建構出堅實的專利圍牆。
在技術發展的過程中，邑流微測陸續獲得工研院專利地圖布局競賽冠軍、工研院傑出研究獎並代表工研院競逐全球百大發明獎(R&D 100)、日本Tecplanter創業競賽台灣區冠軍等。
積體電路發明60年，超越半世紀以來，繁複過程中不可或缺的製程檢測僅有單一固態的乾式檢驗，但半導體多道製程中，包括晶圓生產的黃光蝕刻、薄膜、顯影等製程中，都必須使用到液體或揮發性材料，如CMP研磨液、光阻液、蝕刻化學製品、去離子水等。
邑流微測指出，產業一貫的分析作法是將濕式材料烘烤後，變成固態，經烘烤後的液態材料必然產生團聚或變質，因此半導體產業在液態材料的監測上，常態性的觀測均已非原位形態的失真樣本，受限於濕製程檢驗的高端技術困境難以突破，半導體產業選擇退而求其次的檢測方案，並已行之多年。

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